如何在元件操作(switching)狀態下執行功率半導體/寬能隙半導體材料測試?
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憑藉著優異的材料特性 (high Band gap & high Mobility), GaN功率元件漸漸展現出應用於電源轉換的潛力。GaN-on-Si 的成本優勢把GaN變成低功率快充應用中的標準配備。然而大功率如家電、工業、汽車等應用對功率元件的耐用性與可靠度有更高的要求,GaN-on-Si 的材料缺陷使得用於Si的靜態量測與可靠度評估已不足以代表GaN在真實系統中的動態表現。動態量測與動態可靠度分析可幫助元件開發者改善元件,可幫助元件使用者正確評估元件的功率損耗及老化速率,因此動態量測與動態可靠度分析成了GaN邁向廣泛應用的最後一哩路!
* 延伸查看:[技術文章] GaN量測解決方案
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